簡要描述:FETS-2000是一款擴展靈活的鐵電綜合測試系統(tǒng) TSDC/TSC測試,既可以測試變溫電滯回線計算儲能密度,并具有測試熱刺激電流TSDC/TSC的功能。可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領域的研究。
產品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 環(huán)保,化工,地礦,能源,電子 |
---|---|---|---|
動態(tài)電滯回線測試頻率 | 0.001Hz~5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz | 內置激勵 | ±40VAC(可定制) |
最大電荷解析度 | 10mC(可定制) | 漏電流測量范圍 | 1 pA ~ 20 mA |
測量精度 | 10 fA |
FETS-2000是一款擴展靈活的鐵電綜合測試系統(tǒng) TSDC/TSC測試,既可以測試電滯回線計算儲能密度,并具有測試熱刺激電流TSDC/TSC的功能。可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領域的研究。
鐵電參數(shù)測試主要性能指標:
a. 外接5 kV高壓放大器(可擴展至10 kV)(國產、進口均適用);
b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ~ 5 kHz;
c. 最大電荷解析度:10 mC(可擴展);
d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負載電容1 nF);
e. TSDC/TSC電流測量范圍 1 pA ~ 1uA(可擴展),分辨率10 fA;
f. 配有高壓擊穿保護模塊;
g.溫度范圍:-160℃~260℃。
本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內置驅動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉換器、通訊總線等功能,主控器提供擴展外置高壓放大器接口,可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。
本測試系統(tǒng)鐵電性能測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標和校準,并且能實現(xiàn)較高的測量準確度。
鐵電綜合測試系統(tǒng) TSDC/TSC測試采用模塊化設計,不同的模塊對應不同的電特性測量。主要功能有:
動態(tài)電滯回線DHM
靜態(tài)電滯回線SHM
I-V特性
脈沖PUND
疲勞Fatigue
電擊穿強度BDM
高壓漏電流測試LM
TSDC/TSC測試
電流-偏壓
保持力RM
印跡印痕IM
變溫測試THM。
產品咨詢
電話
微信掃一掃